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產(chǎn)品分類
Product Category
FSM413紅外激光測厚儀主要產(chǎn)品包括:光學測量設(shè)備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備、電學測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備、非接觸式片電阻及漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析（EOT）
更新時間：2024-06-17
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：4351
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進的光學器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
更新時間：2024-03-19型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：765
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